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天然纖維表面聚電解質納米層的靜電力顯微鏡表征 |
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| 資料類型： |
Word文件
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| 關鍵詞： |
棉纖維 聚電解質 自組裝 納米層 靜電力顯微鏡 |
| 資料大?。?/td>
| 231K |
| 所屬學科： |
分子表征 |
| 來源： |
2008年第六屆全國高聚物分子與結構表征學術討論會（9.27-9.30，重慶） |
| 簡介： |
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由于聚電解質上帶有電荷，所以可以利用靜電力顯微鏡（EFM)來探測聚電解質多層結構。EFM是一種采用二次掃描技術的原子力顯微技術。在第二次掃描中，導電的探針與樣品表面保持恒定的間距h，且兩者之間施加了一個電勢差，兩者間的靜電作用導致探針振動產生相位差，從而可獲悉樣品表面電荷分布的信息。此外，EFM不僅可以提供直觀的圖像，并能直接測量聚電解質納米層的厚度。本文的目的在于利用EFM表征吸附在棉纖維表面的聚電解質納米層以及研究電勢差對成像質量的影響。 |
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| 作者： |
黃皓浩
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| 上傳時間： |
2009-03-04 17:37:16 |
| 下載次數： |
9 |
| 消耗積分： |
4
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