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原位紅外光譜測定超臨界流體中聚合物構象及晶型變化
發明/申請人:趙玲 李斌 曹貴平 劉濤 許志美 袁渭康/中國石油化工股份有限公司 華東理工大學
專利號/申請號:200610023299.8
授權/申請日期:2006.08.16 /2006.01.13
專利號/申請號:200610023299.8
授權/申請日期:2006.08.16 /2006.01.13
本發明公開了一種原位解讀超臨界流體環境中聚合物的構象及晶型的方法。本發明將高分子聚合物放置在配備有高壓紅外池的原位傅立葉變換紅外光譜中,將超臨界流體注入高壓紅外池后,原位測定高分子聚合物的紅外譜圖,通過對紅外譜圖進行分析解讀,從而測定高分子聚合物與超臨界二氧化碳相互作用過程中其構象及晶型的變化。本發明利用通過使用配備有高壓紅外池的原位傅立葉變換紅外光譜直接讀取高分子聚合物與超臨界流體作用過程中的實時紅外譜圖,相對于傳統方法中將超臨界流體卸壓之后測定高分子聚合物紅外譜圖的方法,大大提高了測量的精度,從而使得對與超臨界流體作用過程中高分子聚合物構象及晶型變化的原位解讀成為可能。