一種高分子超薄膜相轉(zhuǎn)變溫度的測(cè)定方法
inventor/creator：盧曉林，李柏霖
Paten number/application number：ZL201410274669.X
application/authorized announcemen date：2014-6-18
brief introduction：本發(fā)明涉及一種高分子超薄膜相轉(zhuǎn)變溫度的測(cè)定方法。本發(fā)明將高分子超薄膜鍍?cè)诨咨?采用脈沖式的一束可見光和一束紅外光照射到鍍?cè)诨椎母叻肿映∧ど?由于金屬基底的光學(xué)非線性響應(yīng)將發(fā)射出一束可探測(cè)的表面等離子體的光學(xué)信號(hào)。通過測(cè)定不同溫度下高分子超薄膜的結(jié)構(gòu)變化對(duì)表面等離子體信號(hào)強(qiáng)度的擾動(dòng),即可得到信號(hào)強(qiáng)度隨溫度變化的曲線,該曲線的轉(zhuǎn)折點(diǎn)即為相應(yīng)高分子超薄膜的相轉(zhuǎn)變溫度。該方法測(cè)量簡(jiǎn)單,準(zhǔn)確度高,重現(xiàn)性好,可以實(shí)現(xiàn)原位測(cè)量,具有廣闊的應(yīng)用前景。